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PCT高壓加速壽命試驗箱6個小優(yōu)勢

PCT高壓加速壽命試驗箱|高溫高濕高壓環(huán)境加速老化試驗箱主要用于測試半導體封裝的吸濕能力。被測產品在惡劣的溫度、濕度和壓力下進行測試，濕氣會沿著膠體或膠體與引線框架的界面滲入封裝。常見的失效模式是有源金屬化區(qū)域腐蝕導致的開路，或污染導致的封裝引腳間短路等。廣泛用于測試印刷電路板、多層印刷電路板、IC、LCD、磁鐵等產品的密封性能，測試其產品的耐壓性和氣密性。加速壽命試驗的目的是增加環(huán)境應力(如溫度)和工作應力(如施加在產品上的電壓和負載)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

優(yōu)勢:
1.優(yōu)化設計，外觀優(yōu)雅，做工精細。
2.采用大容量水箱，測試時間長，不間斷。
3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高、控制穩(wěn)定的特點(還可根據(jù)客戶需求選配帶USB曲線數(shù)據(jù)下載功能和通訊功能的4.3寸真彩色屏幕)。
4.PCT加速老化試驗箱與水路總機分離，保證設備的穩(wěn)定性、可靠性和安全性。
5.采用效率真空泵，使箱體達到純飽和蒸汽狀態(tài)。

6.多重安全保護措施，故障報警顯示，故障原因及故障排除功能顯示。

安全保護:
1.安全裝置誤動作:如果PCT加速老化試驗箱門沒有關閉，機器無法啟動。
2.超壓安全保護:當鍋內壓力超過大工作值時，會自動排氣泄壓。
3.超溫保護:當鍋內溫度過高時，機器會報警并自動切斷加熱電源。
4.防燙保護:由特殊材料制成，可防止操作者被燙。
5.機器異常停機，停電處理，整機故障提示。
6.PCT加速老化試驗箱手動安全保護和減壓。

規(guī)格要求
1.PCT加速老化測試儀內膽采用圓弧設計，結合安全容器標準，可防止測試。結露現(xiàn)象，以避免產品在測試過程中過熱冒汽。直接蒸汽沖擊會影響測試結果。
2.配有雙層不銹鋼產品架，或根據(jù)客戶的產品規(guī)格。
3.免費定制特殊產品架。

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